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激光干涉系统在飞行模拟转台校准中的应用

时间:2022-03-17 11:09:24 浏览量:

摘 要:电液伺服飞行模拟转台为复杂的、大型的专用仿真设备,在半实物仿真实验系统中, 为飞行器提供角姿态运动。在频繁、长时间使用的情况下,其技术状态可能产生变化,所以就需 要对飞行模拟转台的性能指标进行校准。由于飞行模拟转台工作环境的特殊性,需要研发一种新 的能够应用于转台的校准方法。本文建立一种新型的激光干涉测量系统,给出了该系统的组成和 原理,分析了测量过程中的误差来源和影响,说明了其在飞行模拟转台校准方面的应用。

关键词:飞行模拟转台;激光干涉测量系统;校准

中图分类号:TJ760.6+1;V216.8文献标识码:A文章编号:1673-5048(2014)06-0036-05

LaserInterferometerSystemUsedfortheCalibrationofFlightSimulator

MAJu1,CUIJianming2

(1.ScienceandTechnologyonSpecialSystemSimulationLaboratory,Beijing100854,China; 2.HarbinInstituteofTechnology,Harbin150080,China)

Abstract:Electrohydraulicservoflightsimulatorisacomplex,largescalespecialequipmentfor simulation.Itprovidesangularposturemovementforaircraftonhardwareintheloopsimulationsystem. Inthefrequentcaseofprolongeduse,thetechnicalstatusofflightsimulatormaybechanged,soitsper formanceindicatorsneedtocalibrate.Duetothespecialnatureofflightsimulatorenvironment,thedevel opmentofanewcalibrationmethodcanbeappliedtotheturntablecalibrationisnecessary.Inthispaper, anewtypeoflaserinterferometermeasurementsystemispresented,andthecompositionandprincipleof thissystemaregiven,thesourcesandinfluencesoferrorsinthemeasurementareanalyzed,andtheap plicationofsysteminflightsimulatorcalibrationareaisillustrated.

Keywords:flightfimulator;laserinterferometersystem;calibration

0 引 言

电液伺服飞行模拟转台为复杂的、大型的专 用仿真设备,在频繁、长时间使用的情况下,飞行 模拟转台的技术状态可能产生变化进而可能影响 对半实物仿真试验结果的判断[1-2]。原有的GJB性能实验方法———自准直仪校准不适用的原因 是[3]:用于屏蔽暗室中的转台安装在离地面数米 高的基台上,按程序遥控运行,人不可接近,而自 准直仪受到环境和距离限制,无法准确测量。同 时,转台的校准精度要求较高,国内尚无在这种测 试环境下对转台进行校准分析的有效方法,也未 查到国外相应的方法资料。

激光干涉测量系统是由干涉测量技术发展而 来的新型测量系统,目前已经广泛应用于数控机 床、加工中心、运动系统、研究与计量领域中,是 一项成熟且得到广泛应用的技术,但尚未见其应 用于飞行模拟转台中。考虑到激光干涉仪所具有的实时检测、远距离测量即可读数等优点,将其应 用于转台的校准分析中。

1 飞行模拟转台的性能指标简介

对飞行模拟转台而言,需要校准的性能指标 主要包括静态性能指标和动态性能指标。

静态性能指标具体包括角位置精度和角位置 重复性精度。角位置精度是指转台某个回转轴从 零位转到给定位置的实测值和给定值之差;角位 置重复性精度是指转台某个回转轴从任一位置到 某一给定位置的多次正反重复性精度。动态性能 指标具体包括最小角速度的平稳性、角速度精度 的校准、最大角速度和最大角加速度的校准,以及 频率响应特性指标的分析。

2 激光干涉测量系统测角原理

2.1 干涉测量技术简介

干涉测量技术是以光波干涉为基础的测量技 术。干涉测量中,干涉仪以干涉条纹反映被测件的 信息,其原理是将光分成两路,两支光路的光程差 Δ可用下式表示[4]:

若把被测件放入干涉仪的一支光路中,干涉 仪的光程差将随着被测件的位置与形状而改变, 干涉条纹也随之变化,测量出干涉条纹的变化量, 便可直接或间接获得与之有关的各种被测信息。 结合三角函数,将长度变化量转换为角度变化量, 进而实现飞行模拟转台的角度测量。

2.2 RENISHAW激光干涉测量系统测角原理

目前国外生产激光干涉仪的公司有美国的Ag ilent(前身为HP)、ZYGO、英国的Renishaw等公 司[5]。Renishaw激光干涉测量系统的性能指标如 表1所示。

该激光干涉测量系统主要由XL-80激光头、 XR20-W无线型回转轴校准装置、角度干涉镜组 成。其中,XL-80激光头内装有He-Ne激光器和相敏光电传感器,相敏光电传感器的作用是检 测干涉条纹的个数。XR20-W无线型回转轴校准 装置中装有如图1中所示的角度反射镜和角度干 涉镜。角度反射镜包含了两个小的反射器,其尖端 的间距为S;角度干涉镜内则包含有一个分光镜和 一个反射镜。激光干涉测量系统的测角原理如图1

所示[6-9]。

XL-80激光头的输出光束到达角度干涉镜 后,被角度干涉镜内的分光镜分成两束分离的光 束。光束1继续直射到角度反射镜下面的反射器形 成光路1,光束2经过分光镜,再经反射镜反射到 角度反射镜上面的反射器形成光路2。两束光到达 角度反射镜后都以平行于入射光的角度反射返回, 在XL-80激光头检测单元前重组,干涉产生测量 信号。

设被测轴的转角为θ,如图1所示。光束1从 角度干涉镜到角度反射镜的路程会减小,同时光 束2的路程增加,整个路径长度的相对变化为

激光干涉测量系统的软件再将此距离转换为 旋转角度θ,即

θ=arcsinΔL/S(8)

上述为激光干涉测量系统小角度测角原理。 大角度测量时,即转角超过5°后,角度反射镜通过 XR20-W无线型回转轴校准装置内的高精度光栅 系统进行伺服控制,使其相对于XR20-W无线型 回转轴校准装置反向旋转相同角度,以便角度反 射镜接收到足够光强,然后将反向旋转角度进行 累加,得到被测轴的旋转角度。转角超过5°后,如 果被测轴转速过快(超过10rpm),XR20-W无线 型回转轴校准装置内的伺服电机无法保证角度反射 镜及时反转过相同角度,就会产生误差。所以在转 台的旋转角度超过5°的情况下有一定的速度限制。

2.3 干涉条纹计数判向原理

激光干涉测量系统在对飞行模拟转台进行角度 测试过程中,由XL-80激光头内的相敏光电传感 器对干涉条纹进行计数。考虑到测量过程中外界干 扰,需要判向电路,将计数脉冲分为加和减两种,用 可逆计数器进行可逆计算以获得脉冲数据[10]。

图2所示为判向计数原理图[10],干涉条纹通 过移相系统获得两路相差π/2的干涉条纹的光强 信号。该信号由两个光电接收器接收,便可以获得 与干涉信号相对应的两路相差π/2的正弦信号和 余弦信号,经放大、整形、倒相及微分等处理,可 以获得4个依次相差π/2的脉冲信号。根据4个 脉冲信号的相位顺序可以实现判向的目的。经过 判向电路后,将一个周期的干涉信号变成4个脉冲 的输出信号,使一个计数脉冲代表1/4干涉条纹的 变化,实现干涉条纹的4倍频计数。

3 激光干涉测量系统在飞行模拟转台校准 中的应用

3.1 Renishaw激光干涉测量系统在转台性能校 准中的使用

对转台进行测量时,例如对转台的内框轴进 行校准时,激光干涉测量系统各个元件摆放如图3 所示。XR20-W无线型回转轴校准装置应该安装 在转台各框待测轴轴端上。考虑到转台的工作环境要求,飞行模拟转台及XR20-W无线型回转轴 校准装置应放置在暗室中,XL-80型激光头和角 度干涉镜等需要安放在暗室外的测试空间内。为 了避免转台转动过程中振动的影响,把XL-80型 激光头放在光学气浮平台上的调节平台上。

飞行模拟转台校准最主要的性能指标包括静 态精度和动态精度。校准时,将XR20-W无线型 回转轴校准装置定位在转台轴系上(保证XR20- W与转台轴线重合)。调整调节平台,使激光从XL -80激光头发出后,经角度干涉镜准确落在XR20 -W无线型回转轴校准装置的角反射镜上。

在测量转台静态性能指标的过程中,在转台的 起始位置将激光装置置零后即可给定转台一个信 号,转台完成越程,到达给定位置后,系统可以结合 软件的读数,记录转台的位置误差,以此得到角位 置精度。给定转台信号,使转台从任意多个位置转 到同一个目标位置,分别记录位置误差,经过数据 处理后得到角重复性精度。测量静态精度的过程中, 激光干涉测量系统的测角精度为±1″,完全可以满 足对静态精度指标的测试及校准分析需求。

在测量转台动态性能指标时,激光干涉测量 系统实时测量转台转过的角度,由此可以做出转 台的角度—时间曲线,曲线每一点的一阶微分即 为转台在该时刻的速度,曲线每一点的二阶微分 即为转台在该时刻的加速度,将测量量与给定量 进行对比,完成速度和加速度的校准。在校准转台 的频率响应特性时,可以得到转台的给定位置曲 线和跟踪位置曲线,对给定位置曲线和跟踪位置 曲线进行辨识,可以得到控制系统的幅频特性与 相频特性波特图,从波特图中可以对转台的频率 响应特性进行校验。

但是,激光干涉测量系统在测量转台的动态 性能指标时是有局限性的。因为XR20-W无线型 回转轴校准装置内的伺服电机最高转速是10rpm, 也就是60(°)/s。因此若转台的旋转角度超过5°时有一定的速度限制,否则会因为XR20-W无线型 回转轴校准装置内的角反射镜无法反转相同角度 而产生误差。即飞行模拟转台转速小于60(°)/s 时,可以利用激光干涉测量系统完成飞行模拟转 台的动态性能指标的校准。如果需要校准更高速 的转台,则XR20-W无线型回转轴校准装置内部 需要更高速的伺服电机。

3.2 激光干涉仪对飞行模拟转台测量精度的分析

由上述激光干涉仪的测角原理可知,只有利 用反射镜随被测轴进行无摆动的理想转动而引起 的光程差所测出的角度才是真实的,而由其他因 素引起的光程差就是测量误差。通过分析可以知 道,校准过程中误差的产生主要有两个来源:①无 线型回转轴校准装置XR20-W的轴线与转台基准 轴线不重合,而是成一个角度α。②激光头的安装 误差,使测量过程中激光光束并不与地面平行,而 是成一个角度β。这两种情况如图4所示。

3.2.1 无线型回转轴校准装置轴线与转台基准轴 线不重合引起的误差分析

如果无线型回转轴校准装置XR20-W的轴线 与转台基准轴线不重合,而是成一个角度α,如图5 所示。随着被测轴的旋转,XR20-W将反向旋转相 同角度,这种运动致使角反射器出现摆动。如果从 激光方向看,反射器的运动将是:向前(位置1),向 右(位置2),向后(位置3)和向左(位置4)。

角度反射镜处于位置1,2,3,4时,其状态如 图6所示。其中,每个位置分别从激光方向和垂直 于激光方向给出示意图。

如果从激光方向看,从位置1→2→3→4可以 看出,如果转台转过的角度是θ,同时规定位置1 是转台的起始位置,即θ=0°。那么,旋转轴线与 基准轴线所成的偏航角度可以用αsinθ来表示。同 理,从垂直于激光方向的侧面看,俯仰角度可以用 αcosθ来表示。

分析4个位置中角度反射镜的状态:在位置1 和位置3,因为反射镜内的两个反射器是在同一高 度上,不会造成光束1和光束2路径长度的相对改 变(参考图1)。在位置2和位置4,反射镜是垂直 于激光的,此时光束1和光束2的路径长度也不会 发生相对改变。

但是,在中间位置会发生测量误差,此时反射镜 的状态由图7示出。转台顺时针旋转,若旋转到图7 (a)中A点位置,此时反射镜的状态如图7(b)所示。

由图7中存在的几何关系可以推导出此时无 线回转轴校准装置轴线的倾角误差所引起的转角

从图7(a)可以看出,转台转动角度为θ时, XR20-W应反向旋转角度θ,即保持反射镜与激 光光束垂直。但从图7(b)可以看出,XR20-W轴 线的轴线倾角误差造成A点反射镜右侧光路减少, 左侧光路增加。这种变化使反射镜旋转的角度为 θ′,且θ′<θ。

另外,将被测轴的旋转和XR20-W的旋转想 象成两个半径为1的圆盘的旋转。被测轴用曲线1 表示,XR20-W轴线用曲线2表示,两个圆盘从 侧面看夹角为α。如图8所示。

如果被测轴旋转0°,90°,180°或270°时,轴 的倾角误差不会造成测量误差。然而,被测轴旋转 其他角度,从激光方向看轴的旋转与XR20-W处 于同一直线时,此时会产生测量误差。

此式推导中多次用到的小角度弧度值约等于 正弦值,所以式中有关角度的单位均为弧度。可以 计算出,如果要使转角误差低于±1″,则无线回转 轴校准装置轴线的倾角误差α不应超过±0.2°, 此时满足测量要求。

3.2.2 激光光束不与基准面平行引起的测量误差 分析

在上述对旋转轴线倾角误差的探讨中,转台 转到位置2和位置4时没有转角误差。但是,如果 由于激光头的安装误差,造成光束不与基准面平 行而是倾斜一个角度,位置2和位置4此时将会存 在转角误差。此时,角度反射镜四个位置的状态如 图9所示。

在位置2时,转角误差取最大值αβ;位置4 时,转角误差取负值-αβ。因此,假设位置1为 θ=0°时,转台转动过程中的转角误差由文献[6] 给出:

φ=αβ·sinθ(13)

可以算出,如果要使转台的转角误差低于 ±1″,α=0.2°时,激光光束与水平面的倾角误差 也不应超过±0.08°,此时满足测量要求。

考虑上述两项误差来源可以得出结论:当无线 回转轴校准装置轴线的倾角误差α不超过±0.2°, 激光束与水平面的倾角误差不超过±0.08°的情况 下,激光干涉测量系统精度能保证在±1″,从而很 好地对飞行模拟转台进行校准。

4 结 束 语

飞行模拟转台已成为我国国防工业中重要的 模拟机械,如何更加准确、方便地对飞行模拟转台 进行校准成为一个必须攻克的难题,而国内用激 光校准转台的方法尚无成熟结论。本文所阐述的 激光干涉测量系统能够精确地测量转台的静态性 能指标,且测角精度为±1″,动态性能指标飞行模 拟转台转速小于60(°)/s时可以准确测量,且具 备较好的精度。如果需要校准更高速的转台,则 XR20-W无线型回转轴校准装置内部需要更高速 的伺服电机。

参考文献:

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[3]张继友,范天泉,曹学东.光电自准直仪研究现状与展 望[J].计量技术,2004(7):27-29.

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[5]所睿,范志军,李岩,等.双频激光干涉仪技术现状与发 展[J].激光与红外,2004,34(4):251-253.

[6]ChapmanM,HollowayA,LeeW,etal.Interferometric CalibrationofRotaryAxes.RotaryAxisCalibrationPaper -Rev2f.

[7]ChapmanMAV,FergussonKellyR,HollowayA,etal. InterferometricAngleMeasurementandtheHardwareOp tionsAvailablefromRenishaw.Technicalwhitepaper: TE326.

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[9]王贵甫,陈桂林,陈雨良.基于激光干涉仪的角度测量 技术[J].传感器技术,2001,20(1):37-39.

[10]范志刚,左保军,张爱红.光电测试技术[M].第二版. 北京:电子工业出版社,2008.

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